LED Valley Tokushima

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有限会社ワイ・システムズ

住所:〒771-0134  徳島市川内町平石住吉209-5  徳島健康科学総合センター
TEL:088-666-3533        FAX:088-666-3534
ホームページ:http://www.ysystems.jp/index-J.html
  ワイ・システムズでは、LED(そのものの製造過程)の評価とLEDを取り込んだ製品の評価及び検査システムを研究、開発、製造そして販売をしています。以下の通り、自社の特許技術をもとにしたLEDの原料(窒化ガリウムのウエハ)を評価する無接触検査装置がワイ・システムズのブランドを代表します。

YFilmSpace α
(ワイフィルムスペース・アルファ)
ワイシステムズ図1 ワイ・システムズの膜厚測定技術を中心に顕微鏡で透明度(LED、フォトレジスト等)を分析するシステム。

フットスイッチ付など、生産現場で使い易く再現性と測定精度が評判。
YWafer Mapper GS3
(ワイウエハーマッパー・ジー・エス・スリー)
ワイシステムズ図2 LED/LD生産用2,3インチウエハ対応、フォトルミネッセンス(PL)、透過率、反射率と膜厚のマッピング装置。光源(レーザー)3台まで設置可能。

(機械、パソコン、制御ソフト、分析ソフト生産管理システム含)
YWafer Mapper GS4
(ワイウエハーマッパー・ジー・エス・フォー)
ワイシステムズ図3 LED/LD生産用4インチウエハまで対応、フォトルミネッセンス(PL)、透過率、反射率と膜厚のマッピング装置。光源(レーザー)5台まで設置可能。

(機械、パソコン、制御ソフト、分析ソフト生産管理システム含)

将来は全自動化が可能な設計の検査装置。
YLED・Tj
(ワイエルイーディー・ティージェー)
ワイシステムズ図4 LED製品用熱抵抗測定委託、システム開発など。

YLED・TjはLEDチップのP・N接合温度を測定するシステム及び技術。
現在、開発中の製品
・ YWafer Mapper GS4用全自動ウェハハンドラーロボット
・ YGrowthMonitor  (半導体成長装置内検査システム)
・ YPlasmaMonitor  (半導体・LED加工装置内検査システム)